Kiểm tra nhiệt độ các thiết bị bao gồm:

• Bypass diode, điểm nhiệt nóng & pin lỗi
• Hot Spot, Cell, Junction box
• Module – String
• Combiner Box, Inverter

Kiểm tra các lỗi ngoại quan và kiểm tra mỗi thành phần cell bao gồm:

• Hidden Crack – Broken Cell – Scratch
• Grid Line Fault – Hot Spot Attenuation
• Internal Defects – Welding with Faults
• Black Core Solar Cell – PID
• Solar Cells are Mixed

Kiểm tra các thành phần ảnh hưởng hiệu suất chuỗi pin theo điều kiện chuẩn (STC) bao gồm:

• Voc measurements (STC)
• Isc measurements (STC)
• Pmax measurements (STC)
• Impp measurements (STC)
• Vmpp measurements (STC)
• Fill Factor
• Đường cong đặc tuyến I-V